| Aparatos de radar |
| Receptores de radionavegación |
| Los demás |
| Aparatos de radiotelemando |
| Conjuntos electrónicos montados |
| Las demás |
| Microscopios electrónicos que dispongan de equipo específicamente concebido para la manipulación y transporte de discos (wafers) de material semiconductor o de retículas |
| Los demás |
| De aparatos de la subpartida 9012 10 10 |
| Los demás |
| Brújulas, incluidos los compases de navegación |
| Sistemas de navegación inercial |
| Los demás |
| Los demás instrumentos y aparatos |
| Partes y accesorios |
| Electrónicos |
| Los demás |
| Electrónicos |
| Los demás |
| Electrónicos |
| Los demás |
| De meteorología, hidrología y geofísica |
| Los demás |
| De geodesia, topografía, agrimensura, nivelación e hidrografía |
| De meteorología, hidrología y geofísica |
| Los demás |
| Partes y accesorios |
| Balanzas |
| Partes y accesorios |
| Trazadores (plotters) |
| Las demás |
| Trazadores |
| Estuches de dibujo |
| Los demás |
| Instrumentos de trazado |
| Instrumentos de cálculo |
| Micrómetros y calibradores |
| Los demás (excepto los calibres sin órganos regulables de la partida 9031) |
| Partes y accesorios |
| Universales y para ensayos de tracción |
| Para ensayos de dureza |
| Los demás |
| Los demás |
| Para ensayos de textil, papel y cartón |
| Los demás |
| Los demás |
| Partes y accesorios |
| Los demás |
| Electrónicos |
| Los demás |
| Barómetros sin combinar con otros instrumentos |
| Electrónicos |
| Los demás |
| Partes y accesorios |
| Caudalímetros |
| Los demás |
| Caudalímetros |
| Los demás |
| Electrónicos |
| Manómetros de espira o membrana manométrica metálica |
| Los demás |
| Electrónicos |
| Los demás |
| Partes y accesorios |
| Electrónicos |
| Los demás |
| Cromatógrafos e instrumentos de electroforesis |
| Espectrómetros, espectrofotómetros y espectrógrafos que utilicen radiaciones ópticas (UV, visibles, IR) |
| Los demás instrumentos y aparatos que utilicen radiaciones ópticas (UV, visibles, IR) |
| Exposímetros |
| Peachímetros, erreachímetros y demás aparatos para medir la conductividad |
| Aparatos para el análisis de las propiedades físicas de los materiales semiconductores o de substratos de visualizadores de cristal líquido o de las capas aislantes y conductoras unidas a éstos durante el proceso de producción de discos (wafers) de material semiconductor o de visualizadores de cristal líquido |
| Los demás |
| Viscosímetros, porosímetros y dilatómetros |
| Aparatos para el análisis de las propiedades físicas de los materiales semiconductores o de substratos de visualizadores de cristal líquido o de las capas aislantes y conductoras unidas a éstos durante el proceso de producción de discos (wafers) de material semiconductor o de visualizadores de cristal líquido |
| Los demás |
| Micrótomos |
| De aparatos de las subpartidas 9027 20 a 9027 80 |
| De micrótomos o de analizadores de gases o humos |
| Contadores de gas |
| Contadores de líquido |
| Monofásica |
| Polifásica |
| Los demás |
| De contadores de electricidad |
| Los demás |
| Cuentarrevoluciones, contadores de producción, taxímetros, cuentakilómetros, podómetros y contadores similares |
| Velocímetros para vehículos terrestres |
| Los demás |
| Estroboscopios |
| Partes y accesorios |
| Instrumentos y aparatos para medida o detección de radiaciones ionizantes |
| Catídicos |
| Los demás, con dispositivo registrador |
| Electrónicos |
| Los demás |
| Multímetros, sin dispositivo registrador |
| Multímetros, con dispositivo registrador |
| Electrónicos |
| Voltímetros |
| Los demás |
| Los demás, con dispositivo registrador |
| Los demás instrumentos y aparatos, especialmente concebidos para técnicas de telecomunicación (por ejemplo: hipsómetros, kerdómetros, distorsiómetros, sofómetros) |
| Para medida o control de discos (wafers) o dispositivos, semiconductores |
| Los demás, con dispositivo registrador |
| Electrónicos |
| Los demás |
| De aparatos de la subpartida 9030 82 00 |
| Los demás |
| Bancos de pruebas |
| Para control de discos (wafers) o dispositivos, semiconductores, o control de máscaras o retículas utilizadas en la fabricación de dispositivos semiconductores |
| Proyectores de perfiles |
| Los demás |
| Para control de discos (wafers) o dispositivos, semiconductores, o para control de fotomáscaras o retículas utilizadas en la fabricación de dispositivos semiconductores |
| Los demás |
| Los demás |
| Para medida o control de magnitudes geométricas |
| Los demás |
| De aparatos de la subpartida 9031 41 00 o para instrumentos y aparatos ópticos para la medición de las impurezas de material particulado en la superficie de los discos (wafers) de material semiconductor de la subpartida 9031 49 90 |
| De aparatos de la subpartida 9031 80 32 |
| Los demás |
| Electrónicos |
| Con dispositivo de disparo eléctrico |
| Los demás |
| Manostatos (presostatos) |
| Hidráulicos o neumáticos |
| Los demás |
| Partes y accesorios |
| Partes y accesorios, no expresados ni comprendidos en otra parte de este capítulo, para máquinas, aparatos, instrumentos o artículos del capítulo 90 |