9027 80 11: Peachímetros, erreachímetros y demás aparatos para medir la conductividad
9027 80 13: Aparatos para el análisis de las propiedades físicas de los materiales semiconductores o de substratos de visualizadores de cristal líquido o de las capas aislantes y conductoras unidas a éstos durante el proceso de producción de discos (wafers) de material semiconductor o de visualizadores de cristal líquido
9027 80 91: Viscosímetros, porosímetros y dilatómetros
9027 80 93: Aparatos para el análisis de las propiedades físicas de los materiales semiconductores o de substratos de visualizadores de cristal líquido o de las capas aislantes y conductoras unidas a éstos durante el proceso de producción de discos (wafers) de material semiconductor o de visualizadores de cristal líquido