Rosetta

Combined Nomenclature 2008 [csv]

9031 90 20: De aparatos de la subpartida 9031 41 00 o para instrumentos y aparatos ópticos para la medición de las impurezas de material particulado en la superficie de los discos (wafers) de material semiconductor de la subpartida 9031 49 90

XVIII 90 9031 9031 90

Children

No children

Corresponds to

  • cnae2009: 2651 - Fabricación de instrumentos y aparatos de medida, verificación y navegación
  • cpa_2008: 26.51.85 - Parts and accessories of instruments and apparatus of 26.51.65, 26.51.66 and 26.51.70

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